2025年8月15日，由全國顆粒表征與分檢及篩網標準化技術委員會組織的《粒度分析 激光衍射法》國家標準與相關標準及校準規(guī)范宣貫會在上海市計量測試研究院成功舉辦。澳譜特科技（上海）有限公司作為粒度分析領域的研發(fā)生產企業(yè)，特派核心技術團隊參會，與用戶深入討論標準內容，旨在提升自身技術水平，推動行業(yè)高質量發(fā)展。

此次宣貫會聚焦于GB/T 19077 - 2024《粒度分析 激光衍射法》等國家標準。會議期間，參會人員認真聆聽來自上海市計量測試技術研究院等單位的標準主要起草人對各項標準的深度解讀。從GB/T 19077 - 2024《粒度分析 激光衍射法》的核心要點，到GB/T 41949 - 2022《顆粒 激光粒度分析儀 技術要求》對儀器性能的嚴格規(guī)范，再到JJF 1211 - 2008《激光粒度分析儀校準規(guī)范》的校準細節(jié)，細致記錄，深入思考，力求全面把握標準內涵。

澳譜特科技應用工程師在會上作了《動態(tài)光散射顆粒粒度測量方法及操作指南——國家標準解讀》的報告，詳細闡述了動態(tài)光散射法測量原理，納米顆粒測量的相關標準，測量裝置以及操作指南，并強調使用動態(tài)光散射法測量納米顆粒粒度時，首先應檢查散射光信號和光強自相關函數是否符合要求，其次為了檢查結果是否受到高濃度效應的影響，需要對樣品進行多次稀釋和測量，若樣品不能稀釋，則使用背散射法測量高濃度樣品粒度，以獲得高質量的測量結果。

會議茶歇期間，澳譜特科技工程師對納米粒度及Zeta電位分析儀進行了深度講解。從儀器的核心工作原理，延伸至其在醫(yī)藥、材料等領域的多元應用，再到產品在檢測速度、數據準確性上的顯著優(yōu)勢，都講解得清晰透徹。與會觀眾真切感受到澳譜特深厚的技術積淀與產品性能，現場咨詢不斷，反響熱烈。

此次參會，澳譜特科技不僅深入掌握了粒度分析激光衍射法的最新標準和技術動態(tài)，還與行業(yè)內眾多專家、企業(yè)建立了良好的溝通渠道，為公司未來在粒度分析領域的技術創(chuàng)新和業(yè)務拓展奠定了堅實基礎。未來，澳譜特科技將繼續(xù)遵循相關標準，不斷優(yōu)化產品和服務，為推動粒度分析行業(yè)的發(fā)展貢獻力量。